權 垠相, 小笠原春彦, 大谷知行, 鈴木 晴, 笠間泰彦, 河地和彦, 溝上圓章,
“セキュリティーマーカー、情報記録媒体、情報記録媒体の判定装置及び複製装置,”
特願2016-024572, 出願日2016年2月12日. 須田喜文, 市川純, 大谷知行, 佐々木芳彰, 太田正人, 二宮和則,
“箱内の能書検査装置、検査方法,”
2012-127942 須田喜文, 市川純, 大谷知行, 佐々木芳彰, 太田正人, 二宮和則,
“プレフィルドシリンジの液漏れ検査装置、検査方法,”
2012-127941 K. Maki, T. Shibuya, C. Otani, K. Kawase,
"Terahertz beam scanning apparatus and method thereof (テラヘルツ波ビーム走査装置と方法),"
USA, Appl. No. 12/989368, Patent No. US8121157 B2, Date of Patent: Feb. 21 (2012). C. Otani, Y. Sasaki, M. Yamashita, G. Okazaki, K. Ninomiya, K. Takahashi, J. Takasuka, T. Kitaguchi,
“Enclosure inspection method and apparatus thereof（封入物検査方法及びその装置）,”
USA, No. US 7697745 B2 M. Shimizu, S. Arima, H. Okuzaki, C. Otani, M. Yamashita,
“Annealing apparatus, annealing method and system for manufacturing thin film substrate (アニール装置、アニール方法及び薄膜基板製造システム),”
Japan, No. 2010-044547 M. Shimizu, S. Arima, H. Okuzaki, C. Otani, M. Yamashita,
“Measurement apparatus for material characteristics, measurement method for material characteristics, system and program for manufacturing thin film substrate (物性測定装置、物性測定方法、薄膜基板製造システム及びプログラム),”
Japan, No. 2010-044546 K. Maki, K. Uematsu, C. Otani,
“Apparatus for the production of a electromagnetic pulse train (電磁波パルス列生成装置),”
Japan, No. 2009-267643 C. Otani, S. Hayashi, H. Miyamaru, H. Hoshina, Y. Ogawa, K. Abe,
“Apparatus and method for composition analysis of ethanol-mixed gasoline (エタノール混合ガソリンの成分分析装置および方法),”
Japan, No. 2009-145057 N. Ebizuka, C. Otani,
“Channel waveguide grating structure and method for its fabrication (溝型導光格子構造およびその製造方法),”
Japan, No. 2009-063754 M. Yamashita, C. Otani,
“Near field microscope apparatus and method for near field spectroscopic image (近接場顕微装置とその分光・画像取得方法),”
Japan, No. 2009-036693 N. Ebizuka, S.Wada, C. Otani, M. Yamashita, S.Sato,
“Dispersion optics system(分散光学システム),”
Japan, No. 2009-015014 K. Maki, K. Uematsu, C. Otani,
“Apparatus and method of electromagnetic wave (電磁波発生装置および電磁波発生方法),”
Japan No. 2009-119617 山下将嗣, 大谷知行, 金鮮美, 村上博成, 斗内政吉, 松本徹,
“半導体検査装置及び検査方法”
特願2008-223612, 出願日2008年9月1日 牧謙一郎, 渋谷孝幸, 大谷知行, 川瀬晃道,
“テラヘルツ波ビーム走査装置と方法,”
特願2008-115034, 出願日2008年4月25日 牧謙一郎, 大谷知行
“テラヘルツ波発生方法と装置,”、
特願2008-115149, 出願日2008年4月25日 山下将嗣, 大谷知行
“近接場顕微装置とその分光・画像取得方法,”、
特開2007-202550, 出願日2007年8月3日 大谷知行, 林伸一郎, 宮丸文章, 保科宏道, 小川雄一, 阿部香織
“エタノール混合ガソリンの成分分析装置および方法,”
特許番号5086787号, 出願日2007年12月11日 大谷知行, 佐々木芳彰, 岡崎剛政, 二宮和則, 山下雅弘, 高橋健吾, 高須賀淳, 北口 透
“封入物検査方法及びその装置,”
特許番号4730536号, 出願日2005年6月27日 滝澤慶之, 高橋義幸, 戎崎俊一, 清水裕彦, 大谷知行
出願2003年(H15)“広帯域望遠鏡,”
PCTルート(米国、EP)、 国際公開番号: WO 03/056377, 国際公開日:2003.7.10 滝澤慶之, 高橋義幸, 戎崎俊一, 清水裕彦, 大谷知行
“広帯域望遠鏡,”
特願2001-397998号 、特開2003-195184 池田時浩, 清水裕彦, 佐藤広海, 大谷 航, 加藤 博, 宮坂浩正, 大谷知行, 川井和彦, 奥 隆之, 渡辺 博, 瀧澤慶之, 仲川 博, 青柳昌宏, 赤穂博司
“超伝導量子干渉計を用いた増幅器における磁気遮蔽装置,”
特開2000-258519, 出願日1999年3月4日、公開日2000年9月22日 池田時浩, 清水裕彦, 佐藤広海, 大谷 航, 加藤 博, 宮坂浩正, 大谷知行, 川井和彦, 奥 隆之, 渡辺 博, 瀧澤慶之, 仲川 博, 青柳昌宏, 赤穂博司, 田井野徹
“ＳＱＵＩＤアンプ用入力回路およびＳＱＵＩＤアンプ用入力回路基板,”
特開2001-7666, 出願日1999年6月25日、公開日2001年1月12日 奥 隆之, 清水裕彦, 佐藤広海, 大谷 航, 加藤博, 宮坂浩正, 大谷知行, 川井和彦, 池田時浩, 渡辺 博, 滝澤慶之, 仲川 博, 青柳昌宏, 赤穂博司
“ジョセフソン素子の動作計算方法及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体,”
特願平11-370337, 特開2001-185772, 出願日1999年12月27日 佐藤広海, 清水裕彦, 池田時浩, 奥 隆之, 滝澤慶之, 渡辺 博, 川井和彦, 大谷知行, 宮坂浩正
“荷電粒子検出装置,”
特願2000-256149, 特開2002-071821, 出願日2000年8月25日 滝澤慶之, 清水裕彦, 大谷知行, 川井和彦, 佐藤広海, 池田時浩, 奥 隆之, 大谷 航, 渡辺 博
“成膜粒子分布測定装置,”
特願2000-76541, 特開2001-262340, 出願日2000年3月17日
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